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  • KT-DQTL1大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試

    大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試,從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié),負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào),實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。

    更新時(shí)間:2023-10-18
    產(chǎn)品型號(hào):KT-DQTL1
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  • KT-DQTL1常溫探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試

    常溫探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試 是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試,從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié),負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào),實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。

    更新時(shí)間:2023-10-18
    產(chǎn)品型號(hào):KT-DQTL1
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  • KT-Z4019MRL4T科研小型氣敏測(cè)試真空探針臺(tái)

    科研小型氣敏測(cè)試真空探針臺(tái),可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z4019MRL4T
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  • KT-Z4019MRL4T制備LK-99 可選用 微型探針太臺(tái)測(cè)試材料

    制備LK-99 可選用 微型探針太臺(tái)測(cè)試材料,可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z4019MRL4T
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  • KT-Z4019MRL4T超導(dǎo)體材料lk99 可用真空探針臺(tái)測(cè)試材料

    超導(dǎo)體材料lk99 可用真空探針臺(tái)測(cè)試材料,可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z4019MRL4T
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